PS800C顆粒掃描儀

使用OCS顆粒掃描儀（PS800C），可以使用兩個單獨的色線掃描相機（檢查顆粒流的正反面）自由落體分析高度透明和不透明的顆粒。該系統可檢測出與產品顏色有偏差的雜質。PS800C的另一個功能是多道擋板系統，可將受污染的顆粒分類。還可以確定母料濃度。進一步的優勢是將實時結果數據傳輸到生產和過程控制，以及通過分選污染的顆粒來改進產品。

1.兩台高性能色線掃描相機

2.污染尺寸為50μm

3.取決於顆粒性質，最高可達到1,000 kg / h的高速吞吐率

4.專為檢測高透明顆粒中的雜質而開發

5.實時結果可視化

6.多軌襟翼系統，用於分類受污染的顆粒

7.可測試的原材料

   a.高度透明的顆粒

   b.不透明顆粒

   c.彩色顆粒