NanoBrook Series粒徑及界達電位分析儀

作為領先將背向光散射技術（Back-Scattering）引入高濃度細微性分析的廠家，布魯克海文公司應用全新的光纖技術將背向光散射技術與傳統動態光散射技術進行了完美結合，突破性地推出了結合13°、90°與173°三個散射角度的Omni多角度細微性及高靈敏Zeta電位分析儀，實現在同一台細微性分析儀中，即可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，可達40%w/v。此外，Omni採用全新的硬體PALS技術測量Zeta電位，與傳統基於頻移技術的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍，可適用于諸如低介電常數、 高粘度、 高鹽度以及等電點附近這些測量條件下的樣品測量。

1.高靈敏性，細微性測量範圍：0.3nm～15μm

2.突破性的三檢測角度設計，測量角度：15°、90°和173°

3.硬體PALS技術，靈敏度高1000倍，適用于高鹽濃度、有機溶劑、油相體系

4.濃度範圍：0.1ppm至40%w/v

5.可作為線上檢測器與GPC/SEC連接，並通過SLS、DLS、光強和粒徑監測聚集過程

6.綜合全新的細微性分析方法和模型Particle Solution 細微性測量軟體

7.強大的資料分析功能，可自動研究細微性隨時間、溫度(蛋白熔點)以及其他參數變化的趨勢分析.  

8.典型應用：

  a.蛋白、縮氨酸、膠束、多糖、藥物製備、脂質體、外切酶體

  b.聚合物膠乳、微乳液、油包水、水包油體系

  c.塗料、顏料、油漆、食品、化妝品配方

  d.陶瓷、耐火材料、炭黑、廢水處理。

9.選件

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